汽车测试展:自我测试,汽车电子的关键

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  车辆采用的电子系统IC复杂性逐渐提高,希望借由执行人工智能(AI)算法控制自驾功能,同时也需满足《道路车辆功能安全ISO 26262》标准(以下简称《ISO 26262》)要求。因此,IC设计公司也正快速采用完整性的测试解决方案,以便达到相关标准要求。

  

  确保车辆电子能稳定的作法之一就是在功能运转期间执行定期测试,也就是在逻辑与存储器利用内建自我测试(Built-in Self Test;BIST)。逻辑BIST也是ISO 26262执行诊断测试的推荐机制,其包含应用在扫描链的芯片产生随机模式,但在车用IC执行BIST仍有挑战。

  首先是符合诊断测试时间间隔(DTI)侷限,其次是打造逻辑BIST,以便满足测试排程,第三是建立应用等级存取所有芯片逻辑BIST以及启动市场反馈诊断。

  《ISO 26262》指出,DTI必须介于100至几微秒之间,这对于车用安全完整性等级中较严格的D标准是一项挑战。另外,《ISO 26262》也定义当错误发生到错误带来有害后果的一段时间。因此,为了符合DTI,测试必须平行执行,但执行平行测试是架构挑战,可能会打破设计的功率预算。

  所有功能安全监控与系统内测试活动,通常是由在专用或共享CPU上执行的软件驱动,直接从软件层存取测试机制可减缓开发流程压力与降低测试延迟。

  此外,能发现故障的电路相当重要,特别是牵涉法律责任的市场反馈。系统内测试解决方案必须能够执行相同测试,且收集更多与制造测试档案类似的测试细节。如此电路便可被诊断去发现故障根本原因。

  随着装置尺寸与复杂性不断增加,满足《ISO 26262标准》的质量与可靠性要求变得更加困难,因此,在IC设计过程的早期便应考虑到设计测试活动。在先进可测试性设计(DFT)流程中采用逻辑BIST,则可帮助厂商达到质量与可靠性指标及产品差异化。车用安全相关IC的DFT则可透过EDA供应商提供的全面ISO 26262认证自动化给予辅助。

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  来源:21ic